电子设备老化测试是一种环境应力测试，通常使用电压和/或温度来加速电子元器件中潜在可靠性缺陷的出现。在电子设备老化测试中我们应用到的设备是昊极科技研发生产的冷热冲击试验箱、高低温试验箱以及HAST高压加速老化试验箱，老化测试的目的是消除产品生命周期早期可能发生的所有潜在故障。

老化是关键的筛选步骤，通常应用于批次中100%的组件。

根据要激活的故障机制，为每个产品系列定义了一组不同的测试方法和要求。其中许多机制依赖于产品技术。例如：HTRB程序（高温反向偏置）筛选设备钝化层内部和外部的移动或温度激活杂质；或SSOP（稳态工作功率）。

电子设备老化测试按照相应的测试方法进行，例如：

MIL-STD-883 TM 1015、1016 用于集成电路

MIL-STD-750 TM 1038、1039、1040、1042 用于离散产品

MIL-STD-202 TM 108 用于电子和电气零件

JEP163

昊极科技研发生产的冷热冲击试验箱、恒温恒湿试验箱以及HAST高压加速老化试验箱适用以上测试标准。

冷热冲击试验箱是 IC 芯片和小型电子产品测试的理想选择。设计由两个独立控制的内箱构成。一个内箱是高温的，另一个是低温的。产品在高温和低温箱之间快速转移，从而对样品产生温度冲击,以帮助发现电子元件和产品组装中的产品缺陷。

昊极科技恒温恒湿试验箱提供多种预制和定制尺寸，以满足您的确切测试要求。可用型号包括各种温度斜坡率、湿度水平以及许多标准和可选功能，包括温度循环、稳态测试和快速变化率。

昊极科技HAST高压加速老化试验箱广泛应用于多层电路板、IC封装、液晶屏、LED、半导体、磁性材料、NdFeB、稀土、磁铁等材料的密封性能测试，对上述产品的耐压力和气密性进行测试。

在老化测试期间，电子组件承受或高于最大额定工作条件的应力以及其质量等级指定的温度。加速因子是通过使用可靠性模型作为温度的影响、测试的持续时间和每个特定故障模式的活化能 (Ea) 确定的。

有关电子设备老化测试解决方案，请随时联系昊极科技的专家，讨论最适合您的产品的场景。

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