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IEC60068-2-1:2007 电子产品测试——超低温试验箱

2024-12-20()次浏览

IEC60068-2-1:2007是国际电工委员会(International Electrotechnical Commission)制定的一项电子产品可靠性测试标准,主要用于评估产品在低温环境下的性能和可靠性。昊极科技的超低温试验箱采用先进的温控技术和精确的环境模拟系统...

IEC60068-2-1:2007是国际电工委员会(International Electrotechnical Commission)制定的一项电子产品可靠性测试标准,主要用于评估产品在低温环境下的性能和可靠性。昊极科技的超低温试验箱采用先进的温控技术和精确的环境模拟系统,能够精准模拟出极端低温环境。满足IEC60068-2-1:2007测试标准的要求。


IEC60068-2-1:2007测试标准概述

IEC60068-2-1:2007是国际电工委员会制定的一项电子产品可靠性测试标准,其中详细描述了低温环境试验的条件、方法和步骤,为产品在低温环境下的性能评估提供了权威指导。该标准适用于所有需要进行低温环境试验的电工电子产品,旨在确保产品在各种极端低温条件下仍能稳定运行。


IEC60068-2-1:2007的试验条件

温度:温度范围可以正负偏差3度,常见的测试温度包括-65℃、-55℃、-40℃、-25℃、-10℃、-5℃、+5℃等。

驻留时间:试验的持续时间一般有2h、16h、72h、96h,或根据产品自身的使用环境选择试验时间。若试验目的仅仅是检查试验样品在低温时是否正常工作,则试验的时间只限于使样品温度达到稳定。

温变率:每分钟不超过1℃(5分钟内之平均值)。

试验容差:±3℃。

试验柜内壁上各点之温度值:须在试验温度(以oK表示)之±8%以内,以避免热辐射问题。


超低温试验箱1 (2).png


昊极科技超低试验箱的技术参数

系统:平衡温度控制(BTC)系统

温度范围:-85℃~+180℃

温度波动:±0.5℃

温度均匀度:2.0℃

温度变化率:升温速率:5.0℃/min 降温速率:2.0℃/min

升温时间:从+20℃到+10℃  20分钟

降温时间:+20℃至-85℃  90分钟


昊极科技超低温试验箱高精度的温度控制系统确保了试验箱内温度的稳定性和准确性,符合IEC60068-2-1:2007标准对温度控制精度的要求。同时,该试验箱通过优化设计和先进的温控技术,实现了试验箱内温度的均匀分布,进一步提高了测试的准确性和可靠性。在试验过程中,试验箱能够实时监测和记录温度数据,保证了试验的准确性和可追溯性。

昊极科技的超低温试验箱作为满足IEC60068-2-1:2007测试标准的重要设备,在电子产品可靠性测试中发挥着重要作用。通过使用该设备,为评估电子产品在低温环境下的性能和可靠性提供了有力支持。


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